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            Nenovision原子力顯微鏡(電鏡原子力關聯(lián))
            Nenovision原子力顯微鏡(電鏡原子力關聯(lián))

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            廣州科適特科學儀器有限公司

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            貨號:LiteScope™
            供應商:廣州科適特科學儀器有限公司
            現(xiàn)貨狀態(tài):三個月
            保修期:一年
            數(shù)量:不限
            規(guī)格:LiteScope™
            liteScope
            LiteScope是一種獨特的掃描探針顯微鏡(SPM)。它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡(SEM)中。合互補的SPMSEM技術使其能夠利用兩者的優(yōu)勢。使用LiteScope及其可更換探針系列,可以輕松進行復雜的樣品分析,包括表面形貌,機械性能,電性能,化學成分,磁性能等的表征。

            LiteScope的設計還使其可以與其他SEM配件結合使聚焦離子束(FIB)或氣體注入系統(tǒng)GIS)用于制造納米/微結構和表面改性。在這種組合中,LiteScope可對制造的結構進行快速簡便的3D檢測。

            此外,LiteScope開辟了一個全新的測量技術領域,可實現(xiàn)相關顯微鏡,即所謂的相關探針和電子顯微鏡(CPEM)。 CPEM技術是市場上首創(chuàng)的技術。它可以在同一個地方進行SPMSEM測量,同時,使用相同的協(xié)調系統(tǒng)。只有CPEM技術才能為您帶來SPMSEM技術相關成像的全部優(yōu)勢。

            特點

            • LiteScope可提高性SEM升級

            • 可作為現(xiàn)有顯微鏡的插件或作為新的SEM使

            • 獨特的相關探針和電子顯微鏡(CPEM)技

            • 復雜的表面表征

            - 形貌,粗糙度,磁性,導電性,電性
            • 自感應探頭,無需光學檢測,無需激光調整

            • LiteScope易于安裝到SEM的樣品臺上/從樣品臺中取

            • 兼容FIB,GISEDX配件

            • 在傾斜位置(角度0°-60°),*小工作距離5

            • 可伸縮的測量頭可釋放樣品周圍的空間

            • 市售探針,種類繁多測量模式

            • 快速簡便地更換探頭和樣本

            • 用戶友好的軟件,在網絡瀏覽器中操作,輕松遠程訪問

            • LiteScope也可作為獨立的SPM使

            LiteScope是現(xiàn)有SEM儀器工作方式的強大增強功能。但是,還有更多的東西。相關顯微鏡結合了使用兩種不同技術對同一物體成像的好處。來自單獨圖像的數(shù)據的相關性提供了關于樣本的更詳細信息,否則這些信息將太復雜而無法分析。

            NenoVision開發(fā)了獨特的技術-相關探針和電子顯微鏡(**申請中)-用于相關成像。CPEM能夠通過SEMSPM確定樣品區(qū)域的表面特征同時使用相同的協(xié)調系統(tǒng)。

            技術規(guī)格

            LiteScope是一款完全可操作的SPM,可讓用戶獲得詳細信

            納米尺度樣品的特征。

            它可以用作獨立的顯微鏡

            或與電子束結合,這是它的**優(yōu)點。 LiteScope通常在高真空下操作,但可根據要求適用于超高真空

            LiteScope連接到SEM / FIB顯微鏡的樣品臺,從而可以根據用戶的喜好進行操作。 LiteScope能夠測

            在傾斜位置,例如用于與FIB技術同時使用。在這種情況下,用戶將會欣賞對接選項,從而可以將整個SPM探針縮回并隱藏在LiteScope的主體中

            機械設計在剛性和適當?shù)墓舱耦l率方面尊重所有基本結構要求。結果高度穩(wěn)定的機架,機械振動水平極低,可產生極其可靠的結果。

            設計亮點

            • 薄型和小尺寸可集成在SEM / FIB儀器

            • 易于集成的程序 - 安裝在SEM / FIB操縱器

            • 通用探頭支架適用于多種SPM方法和簡單的“即插即用”組

            • 樣品傾斜高達60°

            • 優(yōu)化的機械設計,具有極低的振動水平(剛性和適當?shù)墓舱耦l率),集成前置放大器(盡可能消除信號失真/噪聲

            LiteScope數(shù)

            總重量1公斤
            真空工作范圍105Pa至10-5Pa
            掃描范圍XY,Z100 μm × 100 μm × 100 μm
            **樣本量10毫米×10
            **樣本高度8毫米
            解析度高達0.4

            應用
            LiteScope有許多應用,從基礎學術研究到工業(yè)中的故障分析。主要應用與分析有關,特別是在傳統(tǒng)SEM不能提供足夠信息的情況下,使用SPM需要額外的3D成像。其他或互補成像模式的可用性進一步拓寬了應用領域。

            獨特的CPEM技術及其相關成像技術可應用于要求苛刻的領域,使用常規(guī)SEM進行成像可能會因與化學對比度相關的表面污染而干擾表面形貌而提供誤導信息。CPEM是實時準確分析和解釋圖像的理想解決方案

            材料科學和納米技術領域的基礎研究需要使用不同的分析方法對表面和納米結構進行詳細和全面的分析。這是基于充分理解原則的需

            納米級范圍。 LiteScope是這些科學應用的理想工具。

            對于諸如FIBGIS之類的技術而言,其直接優(yōu)勢是顯而易見的,其中結構直接在SEM中形成。新建結構的3D分析工具至關重要。此外,配備CPEM和其他成像模式的LiteScope可以對制備的結構和納米器件進行復雜的分析。

            在工業(yè)質量控制和研發(fā)實驗室中,LiteScope有助于識別表面結構,地形,表面粗糙度,污染等。這些能力受到需要驗證質量的工業(yè)客戶的高度重視。表面,因此可以節(jié)省因故障造成的損失。

            LiteScope可應用于廣泛的行業(yè),包括那些領域的行業(yè)導體,太陽能電池,存儲器件,MEMSNEMS這些領域比其他領域更需要納米級分析。如今,納米電路和納米器件的復雜分析要求越來越高。 LiteScope通過實時擴展樣品的3D成像和多重表征來滿足這些需求。

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