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業(yè)內(nèi)**的半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡,沒有之一。
LEICA INM100自動(dòng)芯片分析顯微鏡配備其配套的控制器、攝像頭,軟件,PRIOR納米平臺(tái)集成了整個(gè)Imaging System。
是對(duì)深亞微米工藝芯片進(jìn)行連續(xù)性、大面積的微觀圖片信息采集的**工具。
使用方法:
① 將試樣芯片置于直線刻度自動(dòng)納米平臺(tái)上,試樣芯片與電動(dòng)平臺(tái)之間的位置關(guān)系是相對(duì)固定的
② 設(shè)定顯微鏡的放大倍數(shù),一邊通過目鏡觀察,一邊調(diào)節(jié)電動(dòng)臺(tái)控制器的操縱桿和轉(zhuǎn)鈕,使顯微鏡的物鏡對(duì)準(zhǔn)試樣的某一微觀區(qū)域(一般是試樣的*邊緣)
③ 試樣芯片通過顯微鏡所成的像由CCD采集
?、?CCD控制器將CCD所采集到的圖片信息進(jìn)行數(shù)/模之間的轉(zhuǎn)換
?、?CCD控制器處理過的信號(hào)在計(jì)算機(jī)的顯示器上顯示出來,在圖像達(dá)到滿意的效果之后,操縱拍攝控制軟件,便將該圖像保存在計(jì)算機(jī)中
⑥ **張圖像保存后,由于電動(dòng)臺(tái)控制器具有設(shè)定的程序,控制器會(huì)控制電動(dòng)平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)至下一相鄰的微觀區(qū)域(逐行或逐列,兩微觀區(qū)域共一邊界),從而使計(jì)算機(jī)的顯示器上呈現(xiàn)第二個(gè)微觀區(qū)域的圖像信息。由于處理過的芯片的表面并不平坦,且放大倍數(shù)較高,可能造成顯示器上圖像并不清晰,此時(shí)可以通過調(diào)節(jié)電動(dòng)臺(tái)控制器來調(diào)節(jié)顯微鏡的焦距,直至獲取該微觀區(qū)域清晰的圖像。拍攝第三個(gè)微觀區(qū)域…第四個(gè)…整個(gè)芯片拍攝完畢。
**版本的自動(dòng)芯片拍照軟件可以同時(shí)處理上萬張照片的拍攝,自動(dòng)拼接合成功能,并可以將上萬張照片的合成照片顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上,解決了海量照片無法顯示的難題。為全面深入地分析芯片提供了**的工具。
暫無數(shù)據(jù)!