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CT-COMPACT nano超高分辨率可到達(dá)亞微米級(jí),強(qiáng)大的功能性可以提供原位/4D 解決方案。與傳統(tǒng)的層析成像相比,CT-COMPACT nano納米分辨率不受樣本大小的限制,實(shí)現(xiàn)0.4μm的超高分辨率,適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、石油、天然氣、生命科學(xué)等領(lǐng)域。
CT-COMPACT nano是以復(fù)雜并且容易改變的目標(biāo)來運(yùn)作。無匹配的系統(tǒng)架構(gòu)與典型的ProCon X-Ray設(shè)計(jì)相結(jié)合,為您提供了一個(gè)方便、高效的系統(tǒng)。通過亞微米分辨率和**的對(duì)比度實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的掃描結(jié)果。
特征
·操作簡(jiǎn)便
·非接觸式計(jì)量
·興趣量 - 掃描
·質(zhì)量控制獨(dú)立于材料
·缺陷識(shí)別(空洞,裂縫......)
·不同的重建算法過濾反投影,代數(shù),統(tǒng)計(jì)
·多個(gè)掃描軌跡Circular,Helix,Planar等等
·許多掃描軌跡的視野擴(kuò)展
·體積縮放(Hounsfield)
·環(huán)形偽像抑制和降噪算法
·光束硬化校正和金屬偽影減少
·用于漂移補(bǔ)償?shù)亩秳?dòng)校正
·相位和暗場(chǎng)對(duì)比度選項(xiàng)
·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面
·批處理和掃描計(jì)劃
·時(shí)間分辨CT掃描(4D CT)
·原位選項(xiàng)
·實(shí)時(shí)CT重建
·使用Flat- panel探測(cè)器快速掃描<10秒
·“Industriepreis 2018” - 獲獎(jiǎng)?wù)?/span>
暫無數(shù)據(jù)!