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高分子材料冷熱沖擊試驗箱主要是用來測試電子元件的電容做高溫、低溫迅速沖擊試驗所引起的物理變化與傷害。其瞬間轉換的溫度在5分鐘以內，轉換時間快達10秒鐘，反復在極高溫極低溫之間的連續(xù)沖擊試驗可檢測樣品所能忍受的程度.特別適合LED、光電、電子、通訊等行業(yè)，目前市場銷量較大的是顯示屏及觸摸屏行業(yè)需求廣泛。常用于電子與信息技術行業(yè)、新材料及應用技術行業(yè)、先進制造技術行業(yè)、航空航天技術行業(yè)、高新技術產業(yè)園區(qū)的大中小企業(yè)實驗室、品質部、研發(fā)部等部門。

高分子材料冷熱沖擊試驗箱主要配置：

01 觸摸屏控制器 日本 OYO9226S

02 壓縮機 法國泰康或德國比澤爾 貳臺（復疊式制冷）

03 熱繼電器 施耐得 LRD

04 中間繼電器 歐姆龍 MY2J

05 計時器 臺灣CKC AH3-3

06 超溫保護 韓國彩虹 TS-320S

07 SSR 臺灣陽明 KSR-40DAE

08 冷凍油 美國冰熊 貳瓶

09 傳感器 臺灣華菱 5只

10 無熔絲開關 臺灣士林 BM-100CN

11 循環(huán)風機 臺灣力大 220V60W

12 風輪 臺灣建煜 6F×3

13 交流接觸器 施耐得 LC1D09M7C

14 冷凝器 臺灣科威力 6匹

15 冷凝風機 德國頓力 220V350M

16 油分離器 美國ALCO 5/8

17 干燥過濾器 丹麥丹佛斯 DML083S

18 膨脹閥 丹麥丹佛斯 TS2/068Z3400

滿足以下標準:

GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件

GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則

GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

GB2424.1 電工電子產品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

GB/T 2423.22-2002溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

GJB150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分: 高溫試驗

GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗