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            透射電子顯微鏡Talos F200X TEM
            透射電子顯微鏡Talos F200X TEM

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            Talos F200X TEM用于材料科學

            *快的200 kV FEG S / TEM,可進行多維化學分析

            Thermo Scientific Talos F200X掃描/透射電子顯微鏡(S / TEM)將出色的高分辨率S / TEM和TEM成像與行業(yè)**的能量色散X射線光譜(EDS)信號檢測以及具有成分映射的3D化學表征相結合。Talos F200X S / TEM可以在所有尺寸(1D-4D)中進行*快,*精確的EDS分析,同時具有**的HRTEM成像和動態(tài)顯微鏡快速導航功能。Talos F200X S / TEM可以做到所有這些,同時還提供**的穩(wěn)定性和*長的正常運行時間。

            STEM成像中的**分辨率和通量

            Thermo Scientific Talos F200X S / TEM可在多個維度上對納米材料進行*快,*精確的定量表征。Talos F200X S / TEM具有旨在提高通量,精度和易用性的創(chuàng)新功能,非常適合在學術,政府和工業(yè)研究環(huán)境中進行高級研究和分析。

            特色配件

            NanoEx-i / v TEM固定器

            Thermo Scientific™樣品加熱和偏壓支架將擴展顯微鏡的功能。NanoEx-i / v是需要 對納米材料進行原位加熱的廣泛應用中進行精確實驗的理想解決方案 ,例如研究納米級退火行為,金屬中的相變,催化劑納米系統(tǒng)中的結構變化和燒結現(xiàn)象,淬滅,偏析/擴散現(xiàn)象等等。

            應用示例:帶有Talos S / TEM的自動化3D EDS

            FIB制備的電池負極材料

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