希望“高精度”且能夠“在生產(chǎn)線(xiàn)內(nèi)”進(jìn)行“二維”尺寸測(cè)量。一向?qū)ιa(chǎn)線(xiàn)內(nèi)測(cè)量精益求精的KEYENCE,本次使二維尺寸測(cè)量?jī)x的高速化到達(dá)一個(gè)新的境界。
• | 從點(diǎn)到面的二維測(cè)量,可同時(shí)測(cè)量*多16 處的測(cè)量范圍內(nèi)設(shè)定的測(cè)量項(xiàng)目。測(cè)量時(shí)間大幅縮短。 |
• | 新開(kāi)發(fā)處高速生產(chǎn)線(xiàn)適用的二維專(zhuān)用處理器,使用2 個(gè)高速演算CPU 和圖像處理專(zhuān)用DSP。 |
• | 高亮度LED 和W 遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成的高精度空間。 |
測(cè)量原理:將綠色LED 光轉(zhuǎn)化為均一的平行光進(jìn)行照射。檢測(cè)出二維CMOS 上受光的明暗投影,然后測(cè)量
其尺寸和角度等。采用只成像平行光的W 遠(yuǎn)心鏡頭。即使對(duì)象物與鏡頭之間的位置發(fā)生變化,CMOS 上的影像
大小并不會(huì)改變,所以可以實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
應(yīng)用:
多點(diǎn)外徑和高度差 | 傳統(tǒng)的激光掃描方式 | 采用一維透射式掃描進(jìn)行測(cè)量,必須考慮裝置的位移精度,因而無(wú)法實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。 | | TM-3000 系列 | TM系列采用二維透射式進(jìn)行測(cè)量,無(wú)需掃描。只需將工件置于測(cè)量范圍內(nèi)便可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)外徑測(cè)量,既提高了精度,又縮短了工時(shí)。 |
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測(cè)量多點(diǎn)變形 | | | 傳統(tǒng)的激光掃描方式 | 需先將試樣從試驗(yàn)機(jī)中取出后再用游標(biāo)卡尺測(cè)量,因此測(cè)試需要花費(fèi)大量時(shí)間。 | | TM-3000 系列 | 若使用TM系列測(cè)量,則可以在給試樣施力的同時(shí)確認(rèn)其變形程度,測(cè)試時(shí)無(wú)需將試樣從試驗(yàn)機(jī)中取出。另外,可在測(cè)試進(jìn)行期間不斷追加其他條件,既準(zhǔn)確又省時(shí)。 |
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定位 | 傳統(tǒng)的激光掃描方式 | 若測(cè)量時(shí)所用攝像機(jī)及照明設(shè)備與測(cè)量機(jī)器相撞,則需要花費(fèi)大量時(shí)間進(jìn)行調(diào)節(jié)。 | | TM-3000 系列 | TM系列運(yùn)用了透射原理,且測(cè)量范圍大,調(diào)節(jié)不費(fèi)時(shí)間,縮短了裝置操作工時(shí)。 |
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厚度 | 傳統(tǒng)的激光掃描方式 | 測(cè)量時(shí)使用兩個(gè)透射傳感器分別感測(cè)輥軸和薄膜,因此需要花費(fèi)時(shí)間去設(shè)置和調(diào)節(jié)設(shè)備。 | | TM-3000 系列 | 若使用TM系列測(cè)量,僅需一個(gè)傳感頭即可同時(shí)感測(cè)輥軸和薄膜,不產(chǎn)生設(shè)置誤差,同時(shí)避免了因振動(dòng)引起的震顫。在品質(zhì)和保養(yǎng)上均有改善。 |
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測(cè)量多點(diǎn)偏移 | 傳統(tǒng)的激光掃描方式 | 傳統(tǒng)透射式進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量時(shí),除需考慮測(cè)量點(diǎn)數(shù)×轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間外,還要算入移至測(cè)量點(diǎn)的移動(dòng)時(shí)間。 | | TM-3000 系列 | 若使用TM系列,僅需從二維數(shù)據(jù)中選定測(cè)量點(diǎn),即可實(shí)現(xiàn)測(cè)量。多點(diǎn)偏移測(cè)量完全同步且一次完成,大大縮短作業(yè)時(shí)間。 |
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