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德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

臺階儀Dektak XT能實現(xiàn)：· 無可匹敵的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

· Single-arch設(shè)計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性

· 先進的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準

· 新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短40%

· 64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍

· 頻率，操作簡易

· 直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

· 針尖自動校準系統(tǒng)

· 布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

· 單傳感器設(shè)計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

40多年不斷創(chuàng)新 建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識和經(jīng)驗之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是首部single-arch設(shè)計的探針輪廓儀，首部內(nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

有超過一萬臺設(shè)備，品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及高性價比著稱。當需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量

提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 利用直接驅(qū)動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設(shè)置，自動完成多掃描模式，讓重復(fù)和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。