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            全自動X光沉降粒度分析儀
            全自動X光沉降粒度分析儀

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            麥克默瑞提克(上 海)儀器有限公司

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            全自動X光沉降粒度分析儀SediGraph III PLUS

            SediGraph®Ⅲ Plus

            全自動X光沉降粒度分析儀

            SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運(yùn)用Stokes方程來計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下,報(bào)告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

            器與配件報(bào)價 聯(lián)系我們產(chǎn)品培訓(xùn)

            久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性

            在過去的四十多年中,美國麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗(yàn)室,SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法,顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律,通過測量粒子在液體中的沉降速率,得出粒子粒徑大小,粒徑分析范圍為0.1~300μm。

            • 產(chǎn)品應(yīng)用

            • 軟件和數(shù)據(jù)報(bào)告

            • 應(yīng)用筆記、文獻(xiàn)和參考書目

            • ASTM測試方法

            智能設(shè)計(jì)特色

            SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計(jì)確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護(hù)更加簡單。并且能夠確保對同一樣品,在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性極高的結(jié)果。

            • 簡化泵系統(tǒng),確??焖俜治龊鸵子诰S護(hù)

            • 降低噪聲,提供更加安靜的工作環(huán)境

            • 維護(hù)提醒裝置,根據(jù)總測試量,提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)

            電腦控制混合室溫度,提高測試可重復(fù)性

            • Windows操作軟件,以太網(wǎng)連接,可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單,聯(lián)網(wǎng)工作,打印機(jī)選擇,剪切和粘貼等操作

            • 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng),能夠提供多種類型的報(bào)告,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)

            多項(xiàng)功能

            • 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進(jìn)行分析,包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分

            • 能夠與其他粒徑測得的數(shù)據(jù)相結(jié)合,使數(shù)據(jù)報(bào)告范圍可擴(kuò)展至125,000μm (125mm),在地質(zhì)學(xué)方面具有很好的應(yīng)用

            • 自下而上地掃描沉降室,能夠準(zhǔn)確的獲取沉降顆粒的總數(shù),同時*小化顆粒分離所需的時間

            • 全自動操作模式能夠增加分析樣品總數(shù),并且能夠減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差

            • 控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化,以獲取精確的分析結(jié)果

            • 多種分析速度,可根據(jù)實(shí)際需要選擇所需的速度和分辨率

            • 實(shí)時顯示,能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,以便根據(jù)需求立即修正分析程序

            • 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)報(bào)告能夠跟蹤過程性能,便于立即對變化做出響應(yīng)

            • 多圖疊加功能,能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進(jìn)行可視化比較,例如:與參考樣品或基線疊加,或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加

            • 數(shù)據(jù)比較圖,能夠提供兩套數(shù)據(jù)組(不同于參考圖)圖形顯示的數(shù)學(xué)差或某個數(shù)據(jù)點(diǎn)高于/低于誤差范圍的程度(指定圖以外)

            • 能夠使用同一臺計(jì)算機(jī)同時控制兩SediGraph,節(jié)約寶貴的實(shí)驗(yàn)室空間,方便數(shù)據(jù)存儲

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            10分

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