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            三維光學顯微鏡Bruker ContourGT-I
            三維光學顯微鏡Bruker ContourGT-I

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            ContourGT-I 三維光學顯微鏡

            全球首創(chuàng)的掃描頭傾斜自動樣品臺桌面型測量系統(tǒng)

            ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成,將創(chuàng)新與工業(yè)界合作的經(jīng)驗集合到一臺桌面型系統(tǒng)上,實現(xiàn)面向生產(chǎn)自動化需要,測量角度靈活,優(yōu)秀的成像質(zhì)量,和已經(jīng)驗證的可定標的穩(wěn)定測試性能。通過布魯克獨有的掃描頭傾斜技術,該系統(tǒng)可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化,從而輕松實現(xiàn)在一定角度內(nèi)自動傾斜對表面特征進行測量。**一代的Vision64™ 軟件結(jié)合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性,更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品,在桌面型系統(tǒng)上實現(xiàn)了以往從未有過的各種特性。

            實現(xiàn)更快,更簡便測量

            ? 自動光學傾斜測量頭

            ? 全自動X,Y, Z樣品臺

            ? 自動光鏡轉(zhuǎn)塔,放大鏡,和測試光選擇

            更靈活而穩(wěn)定的防震

            ? 集成式充氣式防震臺

            ? 高穩(wěn)定度,空間節(jié)省

            更強大的測量和分析

            ? 簡單明了,人性化的工作流程

            ? 實時自動優(yōu)化測量

            ? 完整的數(shù)據(jù)分析軟件包

            ? 可定制的分析報告

            測量高效

            布魯克獨有的傾斜測量頭為用戶提供了極大的靈活性,實現(xiàn)快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結(jié)合頭部傾斜功能,布魯克這一技術實現(xiàn)了將觀察位置始終保持在焦平面處,為用戶實際使用時帶來了很大便利。

            準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的,這樣在批量測試時速度也大大提高。

            臺階高度準確性

            這一特點結(jié)合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。

            業(yè)界*方便靈活的測量方式

            除上述優(yōu)點外,ContourGT-I通過獨有的設計直接在機臺上集成防震系統(tǒng),使其直接滿足各種環(huán)境條件,包括工廠,實現(xiàn)迅速準確地測量。

            這一經(jīng)過嚴格測試的防震系統(tǒng)為用戶提供不折不扣

            的優(yōu)化測試條件,從而得到重復性**的定量數(shù)據(jù)。

            布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯

            Bruker Nano Surfaces YouKu Channel— 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關視頻,觀看**的AFM產(chǎn)品和相關技術進展,以及歷屆網(wǎng)絡研討會和培訓資料,精彩內(nèi)容持續(xù)更新中!

            布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces

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            上海辦公室上海市徐匯區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)桂平路 418號新園科技廣場 19

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