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ContourGT-I 三維光學顯微鏡
全球首創(chuàng)的掃描頭傾斜自動樣品臺桌面型測量系統(tǒng)
ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成,將創(chuàng)新與工業(yè)界合作的經(jīng)驗集合到一臺桌面型系統(tǒng)上,實現(xiàn)面向生產(chǎn)自動化需要,測量角度靈活,優(yōu)秀的成像質(zhì)量,和已經(jīng)驗證的可定標的穩(wěn)定測試性能。通過布魯克獨有的掃描頭傾斜技術,該系統(tǒng)可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化,從而輕松實現(xiàn)在一定角度內(nèi)自動傾斜對表面特征進行測量。**一代的Vision64™ 軟件結(jié)合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性,更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品,在桌面型系統(tǒng)上實現(xiàn)了以往從未有過的各種特性。
實現(xiàn)更快,更簡便測量
? 自動光學傾斜測量頭
? 全自動X,Y, Z樣品臺
? 自動光鏡轉(zhuǎn)塔,放大鏡,和測試光選擇
更靈活而穩(wěn)定的防震
? 集成式充氣式防震臺
? 高穩(wěn)定度,空間節(jié)省
更強大的測量和分析
? 簡單明了,人性化的工作流程
? 實時自動優(yōu)化測量
? 完整的數(shù)據(jù)分析軟件包
? 可定制的分析報告
測量高效
布魯克獨有的傾斜測量頭為用戶提供了極大的靈活性,實現(xiàn)快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結(jié)合頭部傾斜功能,布魯克這一技術實現(xiàn)了將觀察位置始終保持在焦平面處,為用戶實際使用時帶來了很大便利。
準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的,這樣在批量測試時速度也大大提高。
臺階高度準確性
這一特點結(jié)合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。
業(yè)界*方便靈活的測量方式
除上述優(yōu)點外,ContourGT-I通過獨有的設計直接在機臺上集成防震系統(tǒng),使其直接滿足各種環(huán)境條件,包括工廠,實現(xiàn)迅速準確地測量。
這一經(jīng)過嚴格測試的防震系統(tǒng)為用戶提供不折不扣
的優(yōu)化測試條件,從而得到重復性**的定量數(shù)據(jù)。
布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯
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布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces
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