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            韓國SEC SNE-4500M型高分辨臺式掃描電鏡
            韓國SEC SNE-4500M型高分辨臺式掃描電鏡

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            產(chǎn)地

            韓國

            樣本

            暫無
            上海德心貿(mào)易有限公司

            會員

            |

            第2年

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            生產(chǎn)商

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            SNE-4500M型掃描電鏡是韓國SEC公司研制的高分辨、自動化、經(jīng)濟的高端型號Mini-SEM,具備與大型掃描電鏡同等的分辨率。該設備實現(xiàn)了大電鏡的小型化處理,放大倍率高達10萬倍;裝載易于使用的可變光闌,可達到5nm圖像分辨率,是臺式電鏡中分辨率**的設備;作為**一款5軸載臺的Mini-SEM, 能同時運用鼠標控制與快捷鍵移動樣品進行全方位分析;可通過多種掃描模式與測試工具獲得多種分析結(jié)果。廣泛應用于材料科學、生命科學、教育、鑒定、工業(yè)、電子、環(huán)境、能源等領域。

            儀器配置

            型號

            參數(shù)

            SEM basic

            SNE-4500M

            分辨率:5nm,放大倍數(shù):100,000倍,探測器:二次電子(SE),電壓:1到30kv,樣品臺:X,Y,R,Z,T五軸/手動控制,真空:高

            臺式電腦(或筆記本電腦)/因特爾處理器,硬盤:500GB,RAM緩存:4GB

            顯示器(21.5英寸)

            機械泵(裝配;軟管);SEM備用零件(燈絲,試件臺,夾具,扳手……)Cable; Connecting 連接電纜

            SEM Additional accessories

            背散射探測器,類型:固態(tài)4通道

            自動軸控制

            -Type: X,Y,R(3-axis)/DC Type(Basic);類型:X,Y,R(3軸)/DC型(標配)

            EDS System EDS系統(tǒng)

            element

            分辨率:129 電子伏 / 元素范圍:從B 到Am, 反應區(qū)域:25mm2, C系列Si3N4窗口,軟件:TEAM(頻譜分析,圖像,多點,線掃描,數(shù)據(jù)記錄)

            圖1 SNE-4500M型掃描電鏡

            技術參數(shù)

            電子光學系統(tǒng)

            分辨率

            5nm (30kV, 二次電子成像)

            放大倍率

            20x~100,000x

            加速電壓

            1~30kV (1/5/10/15/20/30)

            探測器

            二次電子探測器(SE)

            電子槍

            預對中鎢燈絲

            載臺系統(tǒng)

            載臺運動

            5軸系統(tǒng) (X, Y, R, Z, T -手動)

            X, Y-軸: 40mm / R-軸: 360°

            Z-軸: 0~35mm / Tilt-軸 : 0~45°

            * 影像偏移 : ±150μm

            **樣品尺寸

            80mm(Φ)*35mm(H)

            成像系統(tǒng)

            自動功能

            自動啟動,自動聚焦,自動消像散,自動調(diào)節(jié)對比與亮度

            圖像格式

            BMP, JPEG, PNG, TIFF

            真空系統(tǒng)

            真空模式

            高真空(低真空可選)

            真空泵

            旋轉(zhuǎn)式機械泵/渦輪式分子泵(全自動)

            尺寸與重量

            主機

            390(W)x380(D)x560(H)mm, 88kg

            控制單元

            390(W)x325(D)x560(H)mm, 37kg

            旋轉(zhuǎn)泵

            400(W)x160(D)x340(H)mm, 24kg

            EDS(elment)介紹

            EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer)是裝載在SEM(電子顯微鏡)上的可以對樣品表面進行成分分析的設備。電子束轟擊樣品表面后,可產(chǎn)生多種信號,EDS探測器通過檢測其中的特征X-Ray,進行定性和定量分析。用戶可采用線掃、面掃等模式,進行點、線、面等多區(qū)域多樣的表面成分分析,并生成不同格式的結(jié)果報告。賽可所有電鏡型號都可以裝載EDS探測器,其搭載的袖珍EDS和大型電鏡配備的EDS具有相同的性能,且不需液氮,操作快速、簡便。

            (a) 定性定量分析

            提供快速精準的定性及定量分析結(jié)果,面,點等多領域多樣的表面成分分析,如圖2。

            - 自動分離重疊峰值, 提供高信頼性結(jié)果。

            圖2 賽可臺式掃描電鏡EDS圖譜

            (b) 線掃(Line Scan)

            根據(jù)使用者指定的直線來進行分析,可以明顯區(qū)分各元素差異,如圖3。

            圖3 賽可臺式掃描電鏡EDS線掃圖

            (c) 面掃(Mapping)

            以不同顏色區(qū)分各元素所在區(qū)域,如圖4。

            圖4 賽可臺式掃描電鏡EDS面掃圖

            自動軸控制

            在標配的手動控制載臺上搭載電動控制,可以對載臺在X/Y/R三軸的移動進行自動控制,使樣品移動更簡單。

            用戶可以利用控制界面進行位置移動,在軟件中雙擊鼠標,位置回歸中心點。

            圖5 自動化平臺

            設備應用展示

            晶圓 (SE/10 kV/30,000x)

            氮化鎵(SE/15 kV/10,000x)

            二氧化硅(SE/20 kV/30,000x)

            氧化鋅(SE/5 kV/15,000x

            當前SEC SEM 4500M臺式掃描電鏡現(xiàn)貨大促,直降30W,有興趣快來電咨詢德祥!

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            10分

            售后服務

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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