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            納米檢測顯微鏡LEXT OLS4500
            納米檢測顯微鏡LEXT OLS4500

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            島津企業(yè)管理(中國)有限公司

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            LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能為一體的革新機,從而可以實現(xiàn)對觀測對象從幾十倍到百萬倍的連續(xù)放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察,以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。

            通過在多種顯微鏡和觀察模式間自由切換,LEXT OLS4500可以輕松實現(xiàn)從毫米到納米的超大范圍觀察和測量,這使得觀察對象的定位變得精準快捷,在大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針,并且不用擔(dān)心觀測目標的丟失。另外,這種一體的革新設(shè)計可以實現(xiàn)對同一對象的多手段原位觀測,從而提高了對觀測結(jié)果分析解釋的準確性和可信度!

            l光學(xué)顯微鏡:

            裝有倍率不同的四種物鏡,集合了明視野觀察(BF)、微分干涉觀察(DIC)、簡易偏振光觀察及HDR(高動態(tài)范圍)觀察等多種功能。

            l激光顯微鏡:

            采用短波長405nm的激光光源和高數(shù)值孔徑的專用物鏡、以及獨特的共焦光學(xué)系統(tǒng),實現(xiàn)了優(yōu)異的平面分辨率。在激光微分干涉模式中還可以實現(xiàn)觀察納米級的微小凹凸。

            l掃描探針顯微鏡:

            專業(yè)的針尖對齊夾具避免了在儀器上調(diào)節(jié)激光光斑位置的繁瑣;

            搭載導(dǎo)航功能,可以在已掃圖像中任意制定特定區(qū)域進一步掃描觀測;

            多種觀察模式滿足對樣品表面形貌和物性的觀察分析。

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