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動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué),在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接收干涉的背散射光的檢測器。通過對膜的干燥動力學(xué)曲線的分析,可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運(yùn)動及重排等信息。
光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)
檢測器: (MS-DWS多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué))
溫度:室溫(可選高溫版本,室溫-250℃)
測量厚度: 不高于500 μm 膜厚度
動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué),在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動,測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。干涉的圖像被稱作散斑圖像,由多像素檢測器檢測。
先進(jìn)的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運(yùn)動速度非??欤衲ぃ┑竭\(yùn)動速度非常緩慢(干膜)的速度變化動態(tài)。變化的動力學(xué)過程可以通過流動性因子對時(shí)間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。
- 可以測量不同基底:金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…
- 可以測量膜的厚度 : 高達(dá)500 μm
- 數(shù)據(jù):
1. 成膜動力學(xué)報(bào)告:流動性因子對時(shí)間的變化關(guān)系曲線
2. 根據(jù)膜的類型(水劑涂料或其他),自動計(jì)算特征點(diǎn)
3. 特征點(diǎn)的數(shù)據(jù)表摘要
4. 數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中
主要規(guī)格
檢測頭:
光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)
檢測器: (MS-DWS多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué))
溫度:室溫(可選高溫版本,室溫-250℃)
測量平臺:
防震平臺
測量厚度: 厚達(dá)500 μm 膜厚度
數(shù)據(jù)采集:
可以從秒到數(shù)天. *快可達(dá)30次采集/秒
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價(jià)比