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Leica EM TXP 是一款可對目標(biāo)區(qū)域進行精.確定位的表面處理工具，特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進行定點處理。有了Leica EM TXP,這些工作就可輕松完成。

在Leica EM TXP之前，針對目標(biāo)區(qū)域進行定點切割，研磨或拋光等通常是一項耗時耗力，很困難的工作，因為目標(biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用Leica EM TXP，此類樣品都可被輕易處理完成。

另外，借助其多功能的特點，Leica EM TXP也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。

徠卡精研一體機

與觀察體系合為一體

看清細(xì)節(jié)

為微尺度制樣而生

在顯微鏡下觀察整個樣品處理過程和目標(biāo)區(qū)城

將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過程中，通過體視顯微鏡可對樣品進行實時觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至-30°，則可通過目鏡標(biāo)尺進行距離測量。Leica EM TXP還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得更佳的視覺觀察效果。

★★★ 對微小目標(biāo)區(qū)域進行精.確定位和樣品制備
★★★ 通過立體顯微鏡實現(xiàn)原位觀察
★★★ 多功能化機械處理
★★★ 自動化樣品處理過程控制
★★★ 可獲得平如鏡面的拋光效果
★★★ LED環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選

多種方式制備處理樣品

樣品無需轉(zhuǎn)移，只需切換工具

不需要來回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進行實時觀察。出于安全考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€透明的安全罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。

Leica EM TXP 可對樣品進行以下處理：

★★★ 銑削

★★★ 切割

★★★ 研磨

★★★ 拋光

★★★ 沖鉆

自動化樣品處理過程控制

讓徠卡EM TXP來工作

EM TXP的自動化樣品處理過程控制機制，可以幫助您從常規(guī)繁重的樣品制備工作中解脫出來:
★★★ 帶有自動化E-W運動控制機制

★★★ 帶有自動化應(yīng)力反饋機制

★★★ 帶有自動化進程或時間倒計數(shù)功能

★★★ 帶有應(yīng)力反饋控制的空心鉆自動前進

★★★ 帶有潤滑冷卻劑自動注液和液面監(jiān)控機制

精確的目標(biāo)定位

★★★  在顯微鏡輔助觀察下，通過精密移動工具來幫助你實現(xiàn)

★★★  如移動鋸片到接近目標(biāo)位置進行切割;然后不用取下樣品，直接將鋸片更換成研磨片對目標(biāo)位置進行快速研磨;當(dāng)快接近目標(biāo)位置，可以采用Count down倒計數(shù)功能，自動研磨厚度(2 um)，或后采用Count down倒計時功能，自動拋光

★★★  得益于精密機械控制部件，樣品加工工具步進精度小可達(dá)0.5um

精確的角度校準(zhǔn)

★★★  在顯微鏡輔助觀察下，通過角度校準(zhǔn)適配器幫助你實現(xiàn)對樣品角度的微調(diào)
★★★  角度校準(zhǔn)適配器固定在樣品夾具和樣品懸臂之間，可以實現(xiàn)水平方向和垂直方向分別士5°角度微調(diào)