全光譜分光光度計(jì)

全光譜分光光度計(jì)

使用技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類型下的光譜，還同時提供了數(shù)字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計(jì)系統(tǒng)，結(jié)合了顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區(qū)域的光譜分析；微區(qū)光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時也提供全波段的成像。具備先進(jìn)的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。與上一代20/20PV 相比，具有更好的重復(fù)性和穩(wěn)定性，使得微區(qū)光譜范圍從2100nm延伸至2500nm，還有配備了自動光圈切換功能，使得自動化特點(diǎn)更為突出?，F(xiàn)目前市場上，沒有一家公司能夠在顯微光譜分析條件下，能把光譜范圍做到200-2500nm,從紫外至近紅外全光譜波段。并且也是無光纖連接的系統(tǒng)，重復(fù)性和穩(wěn)定性大大提高，光譜線性也是非常漂亮。

全光譜分光光度計(jì)產(chǎn)品簡介

CRAIC 20/30 PV?全光譜顯微分光光度計(jì)

20/30 PV? UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV?可為用戶定制紫外-可見-近紅外分光光譜儀

創(chuàng)新性的20/30 PV?顯微分光光度計(jì)是CRAIC科技公司的儀器。它為您的需求打造，該定做儀器結(jié)合了光學(xué)、光譜學(xué)和軟件領(lǐng)域里的技術(shù)進(jìn)步，能夠?yàn)槟鷰?的速度和性能體驗(yàn)。CRAIC儀器*是因?yàn)樗暮唵我子?，而這種易用性在這里甚至得到了改善，使得該設(shè)備成為先進(jìn)的紫外-可見-近紅外光顯微分光光度計(jì)。

20/30 PV?顯微分光光度計(jì)結(jié)合了的科技，允許用戶測量直徑小于1微米樣品區(qū)域的紫外-可見-近紅外光范圍內(nèi)的透射比、吸光度、反射率、釋放強(qiáng)度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra?（顯微光譜）的同時，可以觀察到樣品深紫色、可見光和近紅外光處高分辨率的數(shù)字圖像。易用的特點(diǎn)也附加到了20/30 PV?強(qiáng)大的系統(tǒng)中，包括了軟件自動化儀器人體工程學(xué)的所有進(jìn)步。

20/30 PV? 顯微分光光度計(jì)簡單易用，測量方法為非破壞性并且得到的光譜數(shù)據(jù)顯微分光光度計(jì)，可以無縫從深紫光到近紅外光區(qū)域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中獲得 microspectra?（顯微光譜）和圖像。與顯微分光光度計(jì)一起提供的還有用眼觀察樣品的 DirecVu?和高分辨率紫外-可見-近紅外光區(qū)域數(shù)字成像系統(tǒng)。

主要特點(diǎn)：

l   光譜范圍：200至2100納米

l   紫外-可見-近紅外光透射比傳遞顯微分光計(jì)

l   紫外-可見-近紅外光透射比成像

l   紫外-可見-近紅外光反射顯微分光計(jì)

l   紫外-可見-近紅外光傳遞成像

l   紫外-可見-近紅外光熒光顯微分光計(jì)

l   紫外-可見-近紅外光熒光顯微成像

l   拉曼顯微分光計(jì)

l   紫外光、可見光和近紅外光區(qū)域的偏振顯微分光計(jì)

l   紫外光、可見光和近紅外光區(qū)域的偏振微尺度成像

l   膜厚度測量

l   微觀樣品的色度學(xué)

l   帶rIQ?包的折射率測量

l   手動或者全自動操作

l   Lightblades?技術(shù)的特色

l   整合TE冷卻系列探測器，噪音低，穩(wěn)定性好

l   精確的樣品溫控

l   帶刻度，有不同的測量區(qū)域，甚至有的小于1微米

l   目鏡和數(shù)字成像帶來出眾的圖像

l   具有LambdaFire?分光計(jì)和成像控制以及分析軟件的特色。LambdaFire?同時包含觸屏控制

l  專業(yè)軟件包括數(shù)據(jù)分析、光譜數(shù)據(jù)庫、圖像分析等軟件。

紫外-可見-近紅外光顯微分光光譜儀

一個完全整合的顯微分光計(jì)裝置，描述從深紫外光到可見光到近紅外光范圍的光譜。同時直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測量更快、更精確。20/30 PV? 擁有Lightblades?科技的特點(diǎn)，甚至能夠讓您測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分光計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的來源。

拉曼顯微分光光譜儀

靈活的拉曼顯微分光光譜儀

當(dāng)20/30 PV?裝上CRAIC阿波羅?拉曼分光儀模塊后，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測量顯微樣品的儀器一樣工作。這些模塊包括激光、拉曼分光計(jì)和界面光學(xué)，能讓您收集到樣品高質(zhì)量的拉曼光譜。

高靈敏度發(fā)射顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)

20/30 PV?可以被裝配成測量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV?擁有Lightblades科技的特點(diǎn)，能夠激發(fā)從深紫外到近紅外的光，能測出相同范圍的放射，它對于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等學(xué)科的顯微熒光測定法來說是一款強(qiáng)大的工具。

偏振

紫外-可見-近紅外光顯微分光計(jì)和成像系統(tǒng)

20/30 PV?甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV?顯微分光計(jì)擁有偏振Lightblades科技的特點(diǎn)和從紫外光到近紅外光的光譜范圍，它的性能是其他儀器無法達(dá)到的。用這個精細(xì)的系統(tǒng)您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點(diǎn)的樣品的光譜和圖像。

光譜表面成像

光譜表面成像整合了為自動化光譜分析設(shè)計(jì)的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術(shù)。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放射性和拉曼光譜這些數(shù)據(jù)的3D地圖也許能夠生成。

從紫外光到近紅外光的出眾圖像質(zhì)量

20/30 PV? 包含帶有研究級光學(xué)器件的紫外-可見-近紅外光顯微鏡，非常獨(dú)特。20/30 PV? 擁有精細(xì)的成像軟件，帶有彩色、紫外線和近紅外光區(qū)域的高分辨數(shù)碼成像特點(diǎn)。這允許您簡單迅速地通過透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來實(shí)時獲得樣品的圖像。

應(yīng)用

l 半導(dǎo)體薄膜厚度（測量）

l  MEMS 設(shè)備

l  表面等離子體共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜質(zhì)加工檢測

l  蛋白質(zhì)晶體

l  法庭科學(xué)

l  藥物化學(xué)

l  可疑文件

l  OLED

l  平板彩色面罩

l  組合化學(xué)

紫外-可見-近紅外光顯微鏡、紫外-可見-近紅外光顯微分光光度計(jì)和拉曼顯微分光光度計(jì)是通用的實(shí)驗(yàn)室儀器。他們沒有被歐洲IVD Directive、美國食品和藥物管理局或者其他機(jī)構(gòu)允許用于診斷、臨床或者其他醫(yī)學(xué)用途。