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-電鏡元素分析系統(tǒng)品牌
牛津產(chǎn)地
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Ultim Max TEM，搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新設(shè)計80mm2的傳感器，進一步接近樣品并提供更多的x射線計數(shù)。UltimMax TEM結(jié)合了無窗設(shè)計和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
· 0.2 - 0.6 srad的立體角
· 對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的計數(shù)率下進行定量分析
· 在原位實驗中，可在1000°C的溫度下采集譜圖
暫無數(shù)據(jù)！
您是否已飽受核磁送檢排隊周期長、結(jié)果反饋不及時和反應(yīng)情況無法隨時掌握的煎熬？您是否也面臨核磁教學中學生只能學習理論而無法親自實操的窘境？現(xiàn)在X-Pulse寬帶臺式核磁波譜儀可以完全解決上述問題，儀器因
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