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誤差率：
分辨率：
3%重現(xiàn)性：
分散方式：
測(cè)量時(shí)間：
60測(cè)量范圍：
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超高阻雙電四探針測(cè)試儀的步驟
一.概述Overview：
四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1010Ω方阻值，液晶顯示， AD芯片控制，恒流輸出， 四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
The four probe method tests the resistance and resistivity of the high resistance material . It can test to1010Ω resistance value. Liquid crystal display. high precision AD chip control. constant current output. Four probe double bits measurement.
Refer to the American A.S.T.M. standard.Chinese or English language versions.
超高阻雙電四探針測(cè)試儀的步驟
二.適用范圍：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films. Smelting. sintering. sputtering. coating. coating. resistive. Capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive film glass. etc.). metal film. conductive film. aluminium film evaporation. PCB copper foil membrane. EMI coating materials such as sheet resistance and resistivity of conductive paint. conductive paste and conductive plastic. conductive rubber. conductive film. metal film. anti-static materials. EMI shielding materials. conductive fiber. conductive ceramics. etc.
超高阻雙電四探針測(cè)試儀的步驟
三.參數(shù)資料Parameters：
規(guī)格型號(hào)model | FT-371A | FT-371B | FT-371C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-4～1×107Ω/□ | 10-4～1×109Ω/□ | 10-4～1×1010Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 10-5～2×108Ω-cm | 10-5～2×1010Ω-cm | 10-5～2×1011Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍test current | 10mA ---200pA | 10mA ---20pA | 10mA ---2pA |
4.電流精度current accuracy | ±2% | ±2% | ±5% |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤10% | ≤10% | ≤15% |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | ||
7.測(cè)試方式test mode | 組合雙電測(cè)試方法combined double electric test method | ||
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | ||
9.誤差errors | Machine uncertain≤15% | ||
10.選購(gòu)功能choose to buy | 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | ||
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購(gòu)： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1010Ω方阻值，液晶顯示， AD芯片控制，恒流輸出， 四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
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2020-03-05
智能粉體特性測(cè)試儀與非智能型比較優(yōu)勢(shì)分析 一、 功能對(duì)比：1.1.自動(dòng)型特點(diǎn)：通過(guò)高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊；觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
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2020-03-05
四探針電阻率測(cè)試儀是一款主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器。四探針電阻率測(cè)試儀對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的
一、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards：ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060；USP2
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