誤差率:
分辨率:
1%重現(xiàn)性:
儀器原理:
圖像分析分散方式:
測量時(shí)間:
60測量范圍:
看了FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)的用戶又看了
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
FT-351 high temperature four probe resistivity test system
一.概述:overview
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制,解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.
Adopt four probe double electric combination test method to test square resistance and resistivity system . Combined with high temperature box for special high temperature four-point probe test probe jig with PC software for data processing and measurement control. Meet the test requirements of the conductivity of the semiconductor material to temperature change. Advanced measurement and control software to Real-time render the change curve of temperature and resistance, the resistivity, the electrical conductivity data,and process data values statement analysis.
二.適用行業(yè):Applicable industry:
用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
Is widely used in: Corporate. colleges and universities and scientific research departments of conductive ceramics. silicon. germanium single crystal (bar. wafer) resistivity. The determination of silicon epitaxial layer and diffusion layer and ion implantation of square resistance as well as the measurement of conductive glass (ITO) and other new materials such as conductive films square resistance and resistivity and conductivity data.
雙電測四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
The double electric four-point probe is used to measure the four probes in a straight line.The design conforms to the national standard of the single-crystal silicon physical test method and the American A.S.T.M standard.
三.型號(hào)及參數(shù)Models and technical parameters:
規(guī)格型號(hào)Models | FT-351A | FT-351B | FT-351C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-5~2×105Ω/□ | 10-6~2×105Ω/□ | 10-4~1×107Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity range | 10-6~2×106Ω-cm | 10-7~2×106Ω-cm | 10-5~2×108Ω-cm |
3.測試電流范圍test current range | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | 10mA ---200pA |
4.電流精度current accuracy | ±0.1%讀數(shù) | ±0.1讀數(shù) | ±2% |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤10% |
PC軟件界面 PC software interface | 顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 LCD: resistance.resistivity. sheet resistance. temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness | ||
7.測試方式test mode | 雙電測量Double electrical measurement | ||
8.四探針儀工作電源working power | AC 220V±10%.50Hz <30W
| ||
9.誤差/ errors | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard samples) | ≤15% | |
溫度(選購)Highest temperature (choose and buy) | 常溫 Normal temperature -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃ | ||
氣氛保護(hù)(氣體客戶自備) Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves) | 常用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無色、無臭、氣態(tài)的單原子分子 The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules. | ||
溫度精度 Temperature precision | 沖溫值 Blunt temperature values:≤1-3℃;控溫精度 control precision:±1°C | ||
升溫速度: rate of temperature increase | 常溫開始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘 About 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes | ||
高溫材料 High temperature material | 采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder | ||
PC軟件 PC software | 測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)! PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data! | ||
電極材料 Electrode materials | 鎢電極或鉬電極 Tungsten electrode or molybdenum electrode | ||
探針間距 The probe spacing | 直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter | ||
標(biāo)配外(選購): Except standard configuration (optional) | 電腦和打印機(jī)1套;2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè); 1 . One set computer and printer 2.Standard resistance 1 to 5pcs | ||
高溫電源: High temperature power | 供電:400-1200℃ 電源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電源380V;功率9KW: Power supply: 400-1200 ℃ power 220 v. 4 kw power;380 v;1400 ℃ to 1600 ℃ power supply380V ; power 9KW |
儀器精密,操作簡單
智能粉體特性綜合測試儀優(yōu)勢及特點(diǎn)分析1).高精度自動(dòng)化測量技術(shù),智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊;2).7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示,并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測試儀與非智能型比較優(yōu)勢分析 一、 功能對比:1.1.自動(dòng)型特點(diǎn):通過高精度自動(dòng)化測量技術(shù),智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊;觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系,2.描述粉體在粒度、含水量、溫濕度、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊:提供壓力,高度
2020-03-05
四探針電阻率測試儀是一款主要用于測量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器。四探針電阻率測試儀對于半導(dǎo)體材料的電阻率,一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的
一、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards:ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060;USP2
LX-9830G 恒流恒壓電壓降檢測儀詳情介紹操作流程及步驟:1. 接通電源,開機(jī)2. 設(shè)置好測試條件.
粉體流變儀詳情介紹粉體流變儀是一種用于測試粉體材料流變性質(zhì)的儀器。它可以測量粉體的流變性、塑性、彈性、粘度和壁摩擦等性質(zhì)。粉體流變儀的主要工作原理是旋轉(zhuǎn)錐體或板式結(jié)構(gòu),通過測量錐體或板之間的粉體物料所
粉末流動(dòng)性-粉體和顆粒測試儀器方案粉末流動(dòng)性是粉體材料的一個(gè)重要性質(zhì),它表示粉體在受到外力或自身重力的作用下自由流動(dòng)的能力。粉末流動(dòng)性的好壞對于產(chǎn)品的生產(chǎn)、包裝、運(yùn)輸和存儲(chǔ)等方面都具有重要的影響。粉末
壓實(shí)密度和粉末電阻率-粉體和顆粒測試儀器方案壓實(shí)密度和粉末電阻率是粉體和顆粒測試中常用的兩個(gè)指標(biāo)。針對這兩個(gè)指標(biāo),包括以下幾種:壓實(shí)密度測試儀:壓實(shí)密度測試儀是一種用于測量粉體或顆粒密度的儀器。它通過